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美國戴頓大學Partha Banerjee教授主講光電論壇第一百五十八期:從二維至三維互相關:光學方法與性能評估

來源:武漢光電國家研究中心    作者:周昊文    發布時間:2019年05月31日    浏覽:350次

       530日,受光電國家研究中心付玲教授邀請,美國戴頓大學光電系系主任Partha Banerjee教授做客武漢光電論壇第158期。在題為《從二維至三維互相關:光學方法與性能評估》的報告中,他闡述了從二維光學互相關至全息圖互相關的發展。

 

        首先,Banerjee教授诙諧、幽默地介紹了他的研究團隊中各位研究人員與他的合作夥伴。然後,介紹了自2015年來的與光電國家研究中心、工程科學學院的合作與聯系,以及戴頓大學與華科工程科學學院光電學院聯合培養碩士生等。

 

        在報告中,Banerjee教授通過一系列的品質參數(差别比DR,峰-相關能量平面PCE,峰-噪聲比PNR等),對比了傳統的光學相關器與基于光緻折射材料的光學相關器。他指出,基于光緻折射材料的相關器具有實時性、适應性,可提高目标被檢測到的概率,降低出錯率等優點。他闡述了基于光緻折射材料的光學相關器在飛行器、指紋識别中的應用,并分析了相應的品質參數。

 

        接着,他從指紋的應用舉例引出了多波長數字全息技術對指紋進行三維重建的工作。他說,指紋的研究已有百餘年,但是絕大部分的研究均處于對指紋的二維形貌分析。他指明,實際生活中的指紋并不是二維的,而是以三維的形式存在。他的團隊與賓州州立大學合作實現了硬物表面的指紋提取與三維重建,還原了指紋三級孔隙細節。他指出,三維指紋形貌存儲了比二維圖像更豐富的信息,在未來有着更遠大的應用前景。

 

        在報告中,Banerjee教授以多波長全息技術為引闡述了全息圖的定義。全息圖記錄了參考光與物體光的幹涉圖樣,但在圖像中還隐含了光束的相位信息,因而通過全息圖的二維互相關可以提取出三維物體的表面特征。同樣地,品質參數也可用于全息圖的互相關的分析。最後,他介紹了全息圖互相關在三維金屬制造過程中産品監測的應用前景。

 

   Partha Banerjee教授是美國光學學會(OSA)會士,國際光學工程學會(SPIE)會士,物理學會(FInstP)會士,電氣與電子工程師協會(IEEE)高級會員。他的研究興趣涉及數字與動态全息成像,光緻折射材料,光學超材料,非線性光學,以及光學捕捉。已出版5本專著,已發表超過135篇學術論文,超過150/場會議論文/報告。

 

        華中科技大學武漢光電國家研究中心付玲教授主持本期論壇,并為Partha Banerjee教授頒發了“武漢光電論壇”紀念盤。來自光電國家研究中心、光電學院、工程科學學院等多個院系的師生參加了此次報告并踴躍交流。

 

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(責任編輯:胡曉莺)